Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.12104/34590
Title: Caracterización de la calidad de los alambres de cobre comerciales utilizando microscopía de fuerza atómica
Author: Resendis Arenas, Mariana Elizabeth
Advisor/Thesis Advisor: Héctor Pérez Ladrón de Guevara
Publisher: Biblioteca Digital wdg.biblio
Universidad de Guadalajara
URI: http://hdl.handle.net/20.500.12104/34590
http://wdg.biblio.udg.mx
metadata.dc.degree.name: LICENCIATURA EN INGENIERÍA EN ELECTRÓNICA Y COMPUTACIÓN
Appears in Collections:CULAGOS

Files in This Item:
File SizeFormat 
LCULAGOS00234FT.pdf
Restricted Access
2.11 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy


Items in RIUdeG are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.