Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.12104/34590
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dc.contributor.advisorHéctor Pérez Ladrón de Guevara
dc.contributor.authorResendis Arenas, Mariana Elizabeth
dc.contributor.editorCULAGOS
dc.contributor.editorUniversidad de Guadalajara
dc.contributor.otherIngeniero en Electrónica y Computación
dc.date.accessioned2015-09-09T18:12:28Z-
dc.date.available2015-09-09T18:12:28Z-
dc.date.submitted2013
dc.identifier.urihttp://wdg.biblio.udg.mx
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12104/34590-
dc.formatapplication/PDF
dc.language.isospa
dc.publisherBiblioteca Digital wdg.biblio
dc.publisherUniversidad de Guadalajara
dc.rights.urihttp://wdg.biblio.udg.mx/politicasdepublicacion.php
dc.titleCaracterización de la calidad de los alambres de cobre comerciales utilizando microscopía de fuerza atómica
dc.typeLicenciatura
dc.typeTesis
dc.rights.holderUniversidad de Guadalajara
dc.rights.holderResendis Arenas, Mariana Elizabeth
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