Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.12104/34590
Title: Caracterización de la calidad de los alambres de cobre comerciales utilizando microscopía de fuerza atómica
Author: Resendis Arenas, Mariana Elizabeth
Advisor/Thesis Advisor: Héctor Pérez Ladrón de Guevara
Editors: CULAGOS
Universidad de Guadalajara
Career: Ingeniero en Electrónica y Computación
Publisher: Biblioteca Digital wdg.biblio
Universidad de Guadalajara
URI: http://wdg.biblio.udg.mx
http://hdl.handle.net/20.500.12104/34590
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