Browsing by Author Flores, J.L.

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20143D Shape measurement with binary phase-shifted technique and digital filtersSilva, A.; Legarda-Saenz, R.; Garcia-Torales, G.; Balderas-Mata, S.; Flores, J.L.; Silva, A., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico; Legarda-Saenz, R., Facultad de Matemáticas, Universidad Autónoma de Yucatán, Apdo. Postal 172Mérida, Yucatán, Mexico; Garcia-Torales, G., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico; Balderas-Mata, S., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico
2007A review on optical current transducers for power system meteringOrtiz, V.H.; Flores, J.L.; García-Torales, G.; Ortiz, V.H., Electrical Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal CP. 44840, Mexico; Flores, J.L., Electrical Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal CP. 44840, Mexico; García-Torales, G., Electrical Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal CP. 44840, Mexico
2007A review on optical current transducers for power system meteringOrtiz, V.H.; Flores, J.L.; Garcia-Torales, G.; Ortiz, V.H., Electrical Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal CP. 44840, Mexico; Flores, J.L., Electrical Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal CP. 44840, Mexico; García-Torales, G., Electrical Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal CP. 44840, Mexico
2008Alignment of vectorial shearing interferometer using a simple recognition algorithmGarcia-Torales, G.; Flores, J.L.; Alvarez-Borrego, J.; Garcia-Torales, G., Universidad de Guadalajara, Módulo O Planta Baja Colonia Universitaria S.R., Av. Revolución 1500, Guadalajara. Jal., Mexico; Flores, J.L., Universidad de Guadalajara, Módulo O Planta Baja Colonia Universitaria S.R., Av. Revolución 1500, Guadalajara. Jal., Mexico; Álvarez-Borrego, J., C.I.C.E.S.E, División de Física Aplicada, Departamento de Óptica, Carretera Tijuana-Ensenada, Ensenada, B. C., C. P. 22860, Mexico
2008Alignment of vectorial shearing interferometer using a simple recognition algorithmGarcía-Torales, G.; Flores, J.L.; Alvarez-Borrego, J.; García-Torales, G., Universidad de Guadalajara, Módulo O Planta Baja Colonia Universitaria S.R., Av. Revolución 1500, Guadalajara. Jal., Mexico; Flores, J.L., Universidad de Guadalajara, Módulo O Planta Baja Colonia Universitaria S.R., Av. Revolución 1500, Guadalajara. Jal., Mexico; Álvarez-Borrego, J., C.I.C.E.S.E, División de Física Aplicada, Departamento de óptica, Carretera Tijuana-Ensenada, Ensenada, B. C., C. P. 22860, Mexico
2010Analog image contouring using a twisted-nematic liquid-crystal displayFlores, J.L.; Ferrari, J.A.; Ramos, J.A.; Alonso, J.R.; Fernandez, A.; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal., CP.44840, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay; Ramos, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay; Alonso, J.R., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay; Fernández, A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay
2010Analog image contouring using a twisted-nematic liquid-crystal displayFlores, J.L.; Ferrari, J.A.; Ramos, J.A.; Alonso, J.R.; Fernandez, A.; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal., CP.44840, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay; Ramos, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay; Alonso, J.R., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay; Fernández, A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, J. Herrera y Reissig 565, 11300 Montevideo, Uruguay
2012Binary coded linear fringes for three-dimensional shape profilingAyubi, G.A.; Di Martino, J.M.; Flores, J.L.; Ferrari, J.A.; Ayubi, G.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería Udelar, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Di Martino, J.M., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería Udelar, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Flores, J.L., University of Guadalajara, Electronic Engineering Department, Av. Revolución #1500, CP. 44840 Guadalajara, Jalisco, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería Udelar, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay
2012Binary coded linear fringes for three-dimensional shape profilingAyubi, G.A.; Di Martino, J.M.; Flores, J.L.; Ferrari, J.A.; Ayubi, G.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería Udelar, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Di Martino, J.M., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería Udelar, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Flores, J.L., University of Guadalajara, Electronic Engineering Department, Av. Revolución #1500, CP. 44840 Guadalajara, Jalisco, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería Udelar, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay
2013Binary coded triangular fringes for 3-D surface-shape measurementFlores, J.L.; Torales, G.; Ferrari, J.A.; Ayubi, G.; Castillo, O.E.; Di Martino, M.; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500, CP, Guadalajara, Jalisco 44840, Mexico; Torales, G., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500, CP, Guadalajara, Jalisco 44840, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo 11300, Uruguay; Ayubi, G., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo 11300, Uruguay; Castillo, O.E., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500, CP, Guadalajara, Jalisco 44840, Mexico; Di Martino, M., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo 11300, Uruguay
2013Binary coded triangular fringes for 3-D surface-shape measurementFlores, J.L.; Torales, G.; Ferrari, J.A.; Ayubi, G.; Castillo, O.E.; Di Martino, M.; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500, CP, Guadalajara, Jalisco 44840, Mexico; Torales, G., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500, CP, Guadalajara, Jalisco 44840, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo 11300, Uruguay; Ayubi, G., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo 11300, Uruguay; Castillo, O.E., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución No. 1500, CP, Guadalajara, Jalisco 44840, Mexico; Di Martino, M., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo 11300, Uruguay
2006Chocolate pop inspection and selection in situ using cross correlationConstante, J.J.H.; Flores, J.L.; Lepe, R.R.; Garcia-Torales, G.; Alvarez, A.G.; Constante, J.J.H., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico; Lepe, R.R., Universidad de Guadalajara, Depto. Ingeniería de Proyectos, Apdo. Postal 307, C.P. 45101, Zapopan, Jal, Mexico; García-Torales, G., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico; Álvarez, A.G., Chemical Engineering Department, University of Guadalajara, Blvd. Marcelino Garcia B. #1451, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico
2006Chocolate pop inspection and selection in situ using cross correlationConstante, J.J.H.; Flores, J.L.; Lepe, R.R.; García-Torales, G.; Alvarez, A.G.; Constante, J.J.H., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico; Lepe, R.R., Universidad de Guadalajara, Depto. Ingeniería de Proyectos, Apdo. Postal 307, C.P. 45101, Zapopan, Jal, Mexico; García-Torales, G., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico; Álvarez, A.G., Chemical Engineering Department, University of Guadalajara, Blvd. Marcelino García B. #1451, Guadalajara, Jal, CP. 44430, Mexico
2014Color deflectometry for phase retrieval using phase-shifting methodsFlores, J.L.; Legarda-Saenz, R.; Garcia-Torales, G.; Flores, J.L., Departamento de Electrónica, Universidad de Guadalajara, Av. Revolución 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico; Legarda-Saenz, R., Facultad de Matemáticas, Universidad Autónoma de Yucatán, Periférico Norte Tablaje 13615Mérida, Yucatán, Mexico; Garcia-Torales, G., Departamento de Electrónica, Universidad de Guadalajara, Av. Revolución 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico
2014Color deflectometry for phase retrieval using phase-shifting methodsFlores, J.L.; Legarda-Saenz, R.; Garcia-Torales, G.; Flores, J.L., Departamento de Electr�nica, Universidad de Guadalajara, Av. Revoluci�n 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico; Legarda-Saenz, R., Facultad de Matem�ticas, Universidad Aut�noma de Yucat�n, Perif�rico Norte Tablaje 13615M�rida, Yucat�n, Mexico; Garcia-Torales, G., Departamento de Electr�nica, Universidad de Guadalajara, Av. Revoluci�n 1500Guadalajara, Jalisco, Mexico
2012Color encoding of binary fringes for gamma correction in 3-D profilingAyubi, G.A.; Di Martino, J.M.; Alonso, J.R.; Fernandez, A.; Flores, J.L.; Ferrari, J.A.; Ayubi, G.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Di Martino, J.M., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Alonso, J.R., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Fernández, A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, CP. 44840 Guadalajara, Jalisco, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay
2012Color image segmentation by partitional clustering algorithmsAyubi, G.A.; Di Martino, J.M.; Alonso, J.R.; Fernandez, A.; Flores, J.L.; Ferrari, J.A.; Ayubi, G.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Di Martino, J.M., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Alonso, J.R., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Fernández, A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, CP. 44840 Guadalajara, Jalisco, Mexico; Ferrari, J.A., Instituto de Física, Facultad de Ingeniería, UdelaR, J. Herrera y Reissig 565, Montevideo, Uruguay
2009Comparison of a joule effect calibration system using kanthal wire and a laser diode as heat sourcesMaldonado, B.A.; Barcena-Soto, M.; Casillas, N.; Flores, J.L.; Maldonado, B.A., Chemical Engineering Department, University of Guadalajara, Blvd. Marcelino García Barragán #1451, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico; Bárcena-Soto, M., Chemistry Department, University of Guadalajara, Blvd. Marcelino García Barragán #1451, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico; Casillas, N., Electronic Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico; Flores, J.L., Electronic Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico
2009Comparison of a joule effect calibration system using kanthal wire and a laser diode as heat sourcesMaldonado, B.A.; Barcena-Soto, M.; Casillas, N.; Flores, J.L.; Maldonado, B.A., Chemical Engineering Department, University of Guadalajara, Blvd. Marcelino Garc�a Barrag�n #1451, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico; B�rcena-Soto, M., Chemistry Department, University of Guadalajara, Blvd. Marcelino Garc�a Barrag�n #1451, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico; Casillas, N., Electronic Department, University of Guadalajara, Av. Revoluci�n #1500, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico; Flores, J.L., Electronic Department, University of Guadalajara, Av. Revoluci�n #1500, Guadalajara, Jal, C.P. 44430, Mexico
2006Correlation pattern recognition: Optimal parameters for quality standards control of chocolate marshmallow candyFlores, J.L.; Garcia-Torales, G.; Avila, C.P.; Flores, J.L., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal., CP. 44430, Mexico; García-Torales, G., Electronic Engineering Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal., CP. 44430, Mexico; Ávila, C.P., Computing Sciences Department, University of Guadalajara, Av. Revolución #1500, Guadalajara, Jal., CP. 44430, Mexico